搜索關鍵詞:波長色散光譜儀 能量色散光譜儀
二手Fischer XULM 膜厚儀 在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時,XUL® 系列測量儀器是您的優先解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量,能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。
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