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              鍍層厚度測試方法

              發布日期:2021-11-11      瀏覽次數:1005

                                                             鍍層厚度測試 

              鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。 

              檢測方法有     1. 金相法       2. 庫侖法      3. X-ray 方法。

                                                                                                                                                                           

              各方法適用范圍 

              Scope 1. 金相法: 

                     采用金相顯微鏡檢測橫斷面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于 1um,才能保證測量結果在誤差范圍之內;厚度越大,誤差越小。

               2. 庫侖法:

                     適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法,包括測量多層體系,如 Cu/Ni/Cr 以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度,還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為 Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。 

              3. X-ray 方法: 

                     適用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au),銀(Ag),錫(Sn),銅(Cu),鎳(Ni),鉻(Cr)等金屬元素厚度。本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系,或同時測量三層組分的厚度和成分。

                                                                                                                                                                           

              測試原理 Principle 

               1.金相法:

                      利用金相顯微鏡原理,對鍍層厚度進行放大,以便準確的觀測及測量。 

              2.庫侖法: 

                      利用適當的電解液陽極溶解精確限定面積的覆蓋層,電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質上完全溶解,經過所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同,被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時,可由試驗開始到試驗終止的時間計算;用非恒定電流密度溶解時,由累積所耗電量計算,累積所耗電量由電量計累計顯示。

               3. X-ray 方法: 

                      X 射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色 X 射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射,這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量(若密度已知,則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,同時又給出實際的密度,則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。

                                                                                                                                                                           

              樣品要求 Sample requirement 

               1. 金相法:

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                         鍍層照片由于金相法測樣 品的厚度為局部厚度,對于一些厚度不一致 的樣品,需要客戶告知具體部位。如沒有 特殊要求,我們將自行取一個較均勻的部 位進行測量。

               2. 庫侖法: 

                       目前我們只能測平面的鍍層厚度,樣品需要至少一個 5mm2平面。

               3.X-ray 方法: 

                       其面積至少大于 0.05×0.25mm

                                                                                                                                                                           

              參考文件 Reference 

               1. GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法 

               2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section 

               3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)

               4. GB/T4955-1997 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 

              5. GB/T16921-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X 射線光譜方法

               6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry

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